Dispositivo effetto hall

Dispositivo effetto hall

Dx -3000 Sistema di misurazione dell'effetto Hall
1. Misurazione di materiali a semiconduttore, materiali a bassa impedenza e materiali ad alta impedenza.
2. Metro per la sorgente Keithley importato.
3. Selezione di un elettromagnete a campo magnetico elevato.
4. Selezione di un sistema a bassa temperatura fino a 4 K.
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Descrizione

Dx -3000 Sistema di analisi dell'effetto della sala automatica

Piattaforma di caratterizzazione del trasporto elettrico avanzato

ProdottiPanoramica

Dx -3000 è una piattaforma di test multifunzionale progettata per l'analisi completa delle proprietà di trasporto elettrico. Combina l'effetto Hall, la magnetoresistenza e la caratterizzazione IV in un unico sistema integrato. Ottimizzando la selezione della strumentazione ed eliminando le complessità del cablaggio manuale (configurazioni ambiente/a bassa temperatura), semplifica l'acquisizione dei dati per precisione e ripetibilità. Compatibile con elettromagneti o magneti superconduttori (configurabili in utente), supporta sonde di campionamento intelligenti e software personalizzabile per misurazioni rapide e automatizzate.


Vantaggi chiave

  • Flusso di lavoro efficiente: Schede campione modulari abilita l'installazione rapida (supporta 2-4 campioni contemporaneamente con i componenti aggiuntivi).
  • Ampio intervallo di misurazione: Analisi di resistenza da 0. 1MΩ a 100GΩ (espandibile tramite moduli ad alta tensione/impedenza).
  • Test adattivi: Parametri programmabili di corrente/campo magnetico per la sala dinamica e le valutazioni della resistenza.
  • Visualizzazione in tempo reale: Il software automatizzato genera risultati intermedi, curve (IV, RT, RH) e parametri finali (densità portante, mobilità, resistenza al foglio).
  • Flessibilità magnetica: Stabilizzazione a campo zero, stabilità del campo a lungo termine e rapido controllo del campo tramite contatori di Gauss integrati.
  • Versatilità della temperatura: Moduli criogenici opzionali (1.6K -800K) per studi ambientali variabili.

Compatibilità materiale

  • Semiconduttori: Sige, ingaas, hgcdte, sic, algaas, ecc.
  • Film conduttivi: Metalli, strutture TMR, ossidi trasparenti.
  • Substrati ad alta impedenza: Semi-insulando GaAS, CDTE, GAN.

Capacità di base

  1. Analisi dell'effetto della sala:
    Output: resistività, coefficiente di sala, tipo di trasporto/concentrazione, mobilità.
  2. Profilazione magnetoresistanza:
    Metriche: ΔR, ΔR/R%, curve RH.
  3. Caratterizzazione dinamica:
    Mappatura IV a temperature/campi variabili.
    Resistenza dipendente dalla temperatura (RT) sotto campi fissi.

Strumentazione e componenti

Moduli elettrici: Strumenti di precisione Keithley (fonti attuali, nanovoltmeters, matrici di interruttore).

Opzioni magnete:

  • Dx -100: 1,5 t max (polo 60mm, uniformità ± 1%).
  • Dx -130: 2,5 t max (polo da 100 mm).
  • Dx -180: 2,7 t max (palo da 120 mm).

Controllo termico(Opzionale):

Azoto liquido (80–500k), criostati (4–325K), frigoriferi compatti (45–325K).


Specifiche tecniche

Dimensioni del campione:

  • Schede piccole/sonda: da 12x12mm² a 30x30mm².
  • Carte grandi: 50x50mm².

Limiti elettrici:

  • Currente: ± 100pa - 100MA (risoluzione: 100PA).
  • Tensione: ± {{0}}. 1μV - 30V (risoluzione: 0,1μV).
  • Densità del portatore massimo: 1 × 10¹⁸ cm⁻³.

Criteri di precisione:

  • Incertezza di campo/spessore<1%.
  • Rapporto ottimale del campo B/spessore: 1T/mm.

Ottimizzazione del flusso di lavoro

  • Preparazione del campione: Supporta 4-/6- Configurazioni del filo.
  • Software: Automazione completa con registrazione dei dati, adattamento della curva ed estrazione dei parametri.
  • Conformità: Basso consumo di energia (<1mV sample excitation).

Applicazioni ideali

R&D a semiconduttore, studi di materiale magnetico, validazione del dispositivo a film sottile e scienza dei materiali avanzati.

(Nota: configurazioni personalizzate disponibili per configurazioni di laboratorio esistenti o requisiti specializzati.)

 

 

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